NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 今日宣布将在夏威夷檀香山举行的2017国际微波会议(IMS)上展示一项准5G波形发生和测量技术。 该展示将包含代表Verizon 5G技术论坛(5GTF)和3GPP提出的新无线电(New Radio, NR)物理层波形的信号生成和分析。

这一技术展示将使用1 GHz带宽的PXIe-5840第二代矢量信号收发仪(VST)与用于波形调制和解调的准5G软件。波形调制的关键特征包括支持离散傅里叶变换扩展正交频分复用(DFT-S-OFDM)和正交频分多址(OFDMA)以及支持3GPP 5G NR和Verizon 5GTF规范的灵活子载波间隔和分量载波配置，总带宽为1 GHz。该演示支持高达256-QAM的调制类型，测量结果包含功率、相邻信道功率和误差矢量幅度。 该演示的典型应用包括RF功率放大器、前端模块和收发器等RFIC的测试。

NI无线设计和测试副总裁Charles Schroeder：“NI以软件为中心的测试测量方法可允许PXI测试系统随着软件的更新速度进行更新。 借助这种方法，工程师可以使用当前用于测试LTE-A和LTE-A Pro产品的VST测试系统来测试未来的5G产品。”

NI的新5G测试技术与其广泛的RF和无线测试产品系列相得益彰，新的软件进一步完善了现有的802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax,、蓝牙GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS测试解决方案。 NI的RF和无线智能测试系统基于NI先进的VST技术，可帮助工程师降低测试成本。 这些测试系统将受益于从直流到毫米波等不同工作频率范围的600多个PXI产品。它们采用PCI Express第三代总线接口，具有高吞吐量数据移动，同时具有亚纳秒级同步以及集成的定时和触发。 LabVIEW和TestStand软件环境的高效生产力，以及一个由合作伙伴、附加IP和应用工程师组成的充满活力的生态系统，可帮助用户大幅降低测试成本，缩短上市时间，开发面向未来的测试设备来应对未来的种种挑战。